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本文深入探討了EM-ND（電磁非破壞性檢測）技術的挑戰與解決方案。從信號衰減與干擾、複雜結構的檢測難度、材料特性的影響、檢測速度與實時性到成本與技術門檻，本文提供了全面的分析與專家建議。透過這篇文章，讀者將能更深入了解EM-ND技術的應用前景及其在工業製造、醫療診斷等領域的潛力。
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